Дифракционная оптика в оптической и цифровой голографии
|
СтатусДиссертация была зашищена 22 февраля 2019Утверждена Национальным Советом 19 апреля 2019 Автореферат – 1.28 Mb / на английском – 1.42 Mb / на румынскомДиссертацияCZU 532.42:535.317.2(043.2)
|
Ключевые слова
дифракционная оптика, оптическая и цифровая голография, халькогенидные стекла (ХС), азополимеры (АП), многослойные наноструктуры, скалярная и векторная голографическая запись, цифровая голографическая интерферометрия и микроскопия, оптическая и цифровая обработка изображений.Аннотация
Структура работы: Диссертация состоит из введения, пяти глав, основных выводов и рекомендаций, библиографии, включающей 229 названий. Основной текст представлен на 245 страницах, включая 2 приложения, 187 рисунков, 12 таблиц и 57 формул. Полученные результаты были опубликованы в 63 научных статьях.
Цель исследования заключается в разработке элементов дифракционной оптики, которые представляют собой функциональную комбинацию оптических компонентов, оптикомеханических устройств и технологий, и алгоритмов работы.
Задачи исследования включают разработку оптических элементов на основе многослойных наноструктур (МНС) из ХС и AП в качестве записывающих сред; разработку существующих цифровых и оптических голографических технологий для создания элементов дифракционной оптики (ДОЭ) на МНС из ХС и тонких пленок из AП; исследование применимости данных голографических методов как инструмента для исследования оптических свойств наноразмерных материалов; применение ДОЭ как оптических компонентов в оптоэлектронных устройствах, биомедицине и защитных технологиях.
Научная новизна и оригинальность результатов состоит в экспериментальном определении изменений оптических параметров (показатель преломления, коэффициент поглощения) в МНС ХС-Se и тонких пленках AП под воздействием как скалярных, так и векторных компонентов электрического поля оптического излучения; в том что рельефные поверхностные решетки, полученные прямой записью, формируются под воздействием оптических и цифровых голографических методов записи, которые обусловлены векторным (пространственноанизотропным) откликом среды; в том что поверхностная рельефная решетка на МНС ХС-Se формируется фотоиндуцированным структурированием в нанослоях ХС и Se, что приводит к массопереносу в МНС ХС-Se; что поверхностная рельефная решетка, сформированная в тонких пленках AП, формируется фотоиндуцированным транс-цис-транс-преобразованием в AП, что приводит к массопереносу в этих средах; были смоделированы и записаны фазовые ДОЭ на МНС ХС-Se и на тонких пленках AП, изучены их возможности и ограничения для практического применения; оригинальность этой работы заключается в разработке оптических методов регистрации и исследований дифракционных структур на наноразмерных слоях ХС.
Важной научной задачей исследования является разработка теоретических и прикладных аспектов фото- и электронно-индуцированных процессов в аморфных материалах, приводящих к возможности регистрации в этих средах дифракционных структур, и применению данных структур в оптической и цифровой голографии.
Практическая значимость работы заключается в том, что систематические исследования способности МНС ХС-Se и AП структурироваться под воздействием методов лазерной и цифровой голографии, облучения электронным лучом открывают новые перспективы для разработки и/или оптимизации широкого спектра приложений ДОЭ из данных материалов в оптоэлектронике и фотонике (дифракционная оптика, медицина, защитные технологии, голографические методы неразрушающего контроля, изобразительная голография и т. д.).
Внедрение результатов: полученные экспериментальные результаты были практически использованы при успешной реализации 15 международных (ЕС, FP7, Horizon-2020, билатеральных) и национальных прикладных проектов.
Официальные оппоненты
- Anatol Sidorenco
доктор хабилитат, профессор, Институт Электронной Инженерии и Нанотехнологий имени Д. Гицу - Dumitru Ţiuleanu
доктор хабилитат, профессор, Технический Университет Молдовы - KOKENYESI Sandor
doctor habilitat în țtiințe fizico-matematice, profesor, Hungary
Члены Ученого Совета
- Veaceslav Ursachi, председатель
доктор хабилитат, доцент, Институт прикладной физики - Artur Buzdugan, секретарь
доктор хабилитат - Mihail Iovu, член
доктор хабилитат, профессор, Институт прикладной физики - Nicolae Sârbu, член
доктор хабилитат, профессор, Технический Университет Молдовы - Denis Nica , член
доктор хабилитат, профессор, Государственный Университет Молдовы - POPESCU Aurelian,
doctor în țtiințe fizico-matematice, profesor, Romania
Диссертации
